Mitutoyo的物鏡世界，它制訂了長工作距離的顯微鏡光學(xué)的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。其使用了一種新的方法解決了工作距離和光學(xué)參數(shù)的矛盾，避免使用過時(shí)的同行仍在使用的方法。設(shè)計(jì)一個(gè)更大更長的顯微物鏡（95mm齊焦）使得設(shè)計(jì)簡單化。對于一個(gè)遠(yuǎn)場校正系統(tǒng)，需要使用二級轉(zhuǎn)接鏡頭（或轉(zhuǎn)接管）。所有標(biāo)稱的放大倍率是基于焦距為200mm的轉(zhuǎn)接鏡頭。可選6個(gè)系列：M Plan Apo(單獨(dú)列出)，M Plan Apo HR，M Plan Apo SL，M Plan NIR，M Plan NIR HR，M Plan NUV，以及M Plan UV。

Mitutoyo的NIR，NUV，以及遠(yuǎn)場校正長工作距鏡頭結(jié)合了標(biāo)準(zhǔn)M Plan Apo和M PLAN APO SL系列的優(yōu)點(diǎn)，并擴(kuò)展了光譜范圍。NIR物鏡的校正范圍從480nm到1800nm,可用在半導(dǎo)體和電信方面，以及激光切割和普通的Nd:YAG激光。HR系列提高了數(shù)值孔徑NA，分辨率也有了進(jìn)一步的提高。可與7X NIR精密變焦鏡頭和NIR相機(jī)配套使用。NUV和UV系列的鏡頭用在倍頻，三倍頻，四倍頻Nd:YAG性能優(yōu)良。

M PLAN NIR 系列

校正了紅外輻射

可用于從可見光到近紅外光譜

工作距離長，可用于亮場檢測

從480nm到1800nm校正了色差，在焦深范圍內(nèi)可對焦

可用于激光打標(biāo)和激光切割電路板

M PLAN NIR HR 系列

在標(biāo)準(zhǔn)M PLAN NIR物鏡的基礎(chǔ)上提高了分辨率

比NIR HR 50X亮度提高了2.4X， 比NIR HR 100X亮度提高了2X

比NIR HR 50X分辨率提高了155%，比NIR HR 100X分辨率提高140%

不屬于常規(guī)產(chǎn)品，無固定交貨時(shí)間

M Plan Apo NIR B 系列

更優(yōu)異的光學(xué)性能，可在420至1100nm的范圍中清晰觀測

532nm和1064nm的YAG激光波長高透射率

25.5mm的超長工作距離，為NIR系列中最長的工作距離，能夠顯著改善操作性

M PLAN NUV 系列

校正近紫外輻射

可用在從近紫外到可見光譜

工作距離長，可用在亮場檢測上

從355nm到620nm經(jīng)過色差校正，焦深范圍可調(diào)

M PLAN UV系列

在266nm和500nm 波長處校正

可用在亮場檢測，倍頻，4倍頻Nd:YAG激光切割

與Mitutoyo FS70L4顯微鏡或MT-L4 Tube Lens配套使用

不屬于常規(guī)產(chǎn)品，無固定交貨時(shí)間更多詳情請與我們聯(lián)系

附帶轉(zhuǎn)接鏡

轉(zhuǎn)接鏡和C接口適配器可用來與Mitutoyo物鏡配套使用

產(chǎn)品信息

技術(shù)信息